特許
J-GLOBAL ID：200903084536471353
流速測定方法及びその測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
佐々木 宗治 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-306978
公開番号（公開出願番号）：特開平8-211086
出願日： 1995年11月27日
公開日（公表日）： 1996年08月20日
要約：
【要約】【目的】 測定対象物体の表面からの深さによる流速の分布を測定することを可能にした流速測定装置及びその測定装置を提供する。【構成】 移動する導電性の測定対象物体に対し、垂直方向に磁場を励磁し、対象面と垂直な少なくとも2点の磁場成分を、測定対象物体の移動方向において平行でかつ励磁磁場の対称な位置で検出し、その検出点の磁場の差分信号に基づいて、測定対象物体の流速を測定する流速測定方法及び装置において、複数の周波数を交ぜ合わせた交流磁場を与え、又は異なった周波数の交流磁場を時系列に与えて、検出点の磁場の差分信号からそれぞれの周波数に対応した信号成分を検出し、その周波数による信号とそれとは別に測定した測定対象物体との距離とを用いて、測定対象物体の表面からの深さによる流速分布を求める。
請求項（抜粋）：
移動する導電性の測定対象物体に対し、垂直方向に磁場を励磁し、対象面と垂直な少なくとも2点の磁場成分を、測定対象物体の移動方向において平行でかつ励磁磁場の対称な位置で検出し、その検出点の磁場の差分信号に基づいて、測定対象物体の流速を測定する流速測定方法において、複数の周波数を交ぜ合わせた交流磁場を与え、又は異なった周波数の交流磁場を時系列に与えて、検出点の磁場の差分信号からそれぞれの周波数に対応した信号成分を検出し、その周波数による信号とそれとは別に測定した測定対象物体との距離とを用いて、測定対象物体の表面からの深さによる流速分布を求めることを特徴とする流速測定方法。
IPC (2件)：
G01P 5/08
, B22D 11/16 104
