特許

J-GLOBAL ID：200903084548098500

非分散型赤外線ガス測定装置

発明者： 渡邊 良昭 ,  香野 浩
出願人/特許権者： 理研計器株式会社
代理人 (1件)： 木村 勝彦 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-352943
公開番号（公開出願番号）：特開平6-180284
出願日： 1992年12月11日
公開日（公表日）： 1994年06月28日
要約：

【要約】【目的】 最適な光路長が大きく異なる複数の成分を単一の測定室を用いて測定すること。【構成】 測定室2を構成する筒状体1の一端に共通の赤外線光源8を、また他端に筒状体1の軸方向に移動可能に円筒状支持体を半固定する固定具を兼ねた蓋体9を設けるとともに、被測定成分に対応したフィルタを有する赤外線検出器を円筒状支持体の先端に固定して検出ユニット3,4を構成し、通孔14,15に軸方向に移動可能に挿入固定する。測定成分の変更などにより測定光路長を再調整したい場合には検出ユニット3,4をその軸線方向に移動させて光源との距離L1,L2を調整する。

請求項（抜粋）：

測定室を構成する筒状体の一端に赤外線光源を、また他端に複数の円筒状支持体を軸方向に移動可能に半固定する固定具を兼ねた蓋体を設けて測定室を構成し、また前記支持体の先端に被測定成分に対応したフィルタを有する赤外線検出器を設けて検出ユニットを構成してなる非分散型赤外線ガス測定装置。

IPC (2件)：

G01N 21/61 ,  G01N 21/35

引用特許：

出願人引用 (3件)

• 特開昭61-194334
  
• ガス濃度分布計測装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平4-145581   出願人：石川島播磨重工業株式会社
• 特開昭61-204546