3次元計測装置

発明者： , , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：天野正景 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-134432
公開番号（公開出願番号）：特開2001-317915
出願日： 2000年05月08日
公開日（公表日）： 2001年11月16日
要約：

【要約】【課題】基準尺を用いずに、各撮影点におけるカメラの相対位置関係及び相対角度関係を確定することができる3次元計測装置を提供することを課題とする。【解決手段】この発明の3次元計測装置は、被計測物を撮影するための撮影部3と、撮影部3によって被計測物が撮影された画像上の特徴点を指定するための第1の特徴点指定手段(操作部10)と、操作部10によって指定された被計測物上の特徴点までの距離を測距するための測距部4と、第1の撮影位置において被計測物が撮影された画像上の特徴点に対応する被計測物上の点を、撮影部3によって第2の撮影位置においてこの被計測物が撮影された画像上の特徴点として指定するための第2の特徴点指定手段と、第1の撮影位置及び上記第2の撮影位置において被計測物が撮影された画像上の各特徴点と測距部4によって各撮影位置において測距された各特徴点までの距離とから、第1の撮影位置と第2の撮影位置との相対的な位置と角度を求める演算装置2と、を備えている。

請求項（抜粋）：

3次元計測装置であって、この3次元計測装置は、被計測物を撮影するための撮像手段と、上記撮像手段によって被計測物が撮影された画像上の特徴点を指定するための第1の特徴点指定手段と、上記特徴点指定手段によって指定された被計測物上の特徴点までの距離を測距するための測距手段と、第1の撮影位置において被計測物が撮影された画像上の上記特徴点に対応する被計測物上の点を、上記撮像手段によって第2の撮影位置においてこの被計測物が撮影された画像上の特徴点として指定するための第2の特徴点指定手段と、上記第1の撮影位置及び上記第2の撮影位置において被計測物が撮影された画像上の各特徴点と上記測距手段によって上記各撮影位置において測距された各特徴点までの距離とから、第1の撮影位置と第2の撮影位置との相対的な位置と角度を求める演算手段と、を備えていることを特徴とする3次元計測装置。

IPC (3件)：

G01B 11/00 , G01S 5/14 , G06T 1/00 315

FI (4件)：

G01B 11/00 H , G01B 11/00 B , G01S 5/14 , G06T 1/00 315

Fターム (26件)：

2F065AA04 , 2F065AA06 , 2F065AA12 , 2F065AA53 , 2F065CC11 , 2F065CC14 , 2F065FF04 , 2F065FF05 , 2F065FF31 , 2F065HH04 , 2F065JJ01 , 2F065JJ03 , 2F065JJ05 , 2F065JJ26 , 2F065QQ21 , 2F065QQ28 , 2F065SS13 , 5B057AA16 , 5B057CA13 , 5B057DA07 , 5B057DB03 , 5B057DC05 , 5B057DC08 , 5J062AA01 , 5J062BB01 , 5J062CC07

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