特許
J-GLOBAL ID：200903084615659805
塗膜の膜厚計
発明者：
,
,
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
高野 茂
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-126808
公開番号（公開出願番号）：特開2000-321012
出願日： 1999年05月07日
公開日（公表日）： 2000年11月24日
要約：
【要約】【課題】 個人差なく高精度に測定が可能な塗膜の膜厚計を得る。【解決手段】 ウェット状態の塗膜の膜厚を測定する塗膜の膜厚計であって、被測定物の素地表面からの設置高さが異なるように配置した複数の膜厚測定電極7a、7bおよび7cと、複数の膜厚測定電極7a、7bおよび7cのそれぞれに塗膜が接触したときに塗膜を通して被測定物の素地に電流を流す回路と、電流の流れた膜厚測定電極を特定する手段とからなる塗膜の膜厚計。
請求項（抜粋）：
ウェット状態の塗膜の膜厚を測定する塗膜の膜厚計であって、被測定物の素地表面からの設置高さが異なるように配置した複数の膜厚測定電極と、該複数の膜厚測定電極のそれぞれに塗膜が接触したときに塗膜を通して被測定物の素地に電流を流す回路と、電流の流れた膜厚測定電極を特定し表示する手段とからなることを特徴とする塗膜の膜厚計。
Fターム (11件)：
2F063AA16
, 2F063BC09
, 2F063BD13
, 2F063CA09
, 2F063DA02
, 2F063DB04
, 2F063DB07
, 2F063DC08
, 2F063DD06
, 2F063FA09
, 2F063MA03
