特許
J-GLOBAL ID:200903084620615794

弁開閉時期制御装置

発明者:
出願人/特許権者:
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平8-098707
公開番号(公開出願番号):特開平9-287420
出願日: 1996年04月19日
公開日(公表日): 1997年11月04日
要約:
【要約】【課題】 流体で制御するベーンタイプの弁開閉時期制御装置に用いる位置保持機構であり、スプリングに抗してピンを流体圧で作動させるタイプの位置保持機構は、ピンの外周に流体圧を発生させる流体に含まれた異物が挟まるとピンの摺動に支承が発生する問題を解決する。【解決手段】 弁開閉時期制御装置の位置保持機構にピンの円滑な摺動を確保する異物除去機構を付加した。
請求項(抜粋):
内周部に複数の圧力室を形成する仕切壁を備えた回転伝達部材と、該回転伝達部材の内周に配置し前記圧力室を区画するベーンを取り付けた吸気弁又は排気弁を開閉させる回転軸と、前記ベーンで区画される圧力室をそれぞれ圧力作動室とし該圧力作動室へ流体を吸排するそれぞれの流体通路と、該流体通路に接続する前記圧力作動室の流体調整手段と、前記回転軸に設けた受容孔に前記回転伝達部材に設けた支持孔に配置され付勢手段によって付勢されたピンを挿入して前記回転伝達部材と前記回転軸の位相差を保持し、前記ピンに前記回転軸側から前記流体通路の流体を供給して前記ピンの挿入を解除する位相保持機構からなる弁開閉時期制御装置において、前記位相保持機構は前記ピンに供給する流体に含まれる異物を除去する異物除去機構を備えたことを特徴とする弁開閉時期制御装置。
IPC (3件):
F01L 1/34 ,  F01M 1/06 ,  F01M 11/03
FI (3件):
F01L 1/34 E ,  F01M 1/06 F ,  F01M 11/03 Z
引用特許:
審査官引用 (2件)
  • 特開平1-092504
  • 特開昭57-024408

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