部品検査装置

発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2000-023109
公開番号（公開出願番号）：特開2001-212521
出願日： 2000年01月31日
公開日（公表日）： 2001年08月07日
要約：

【要約】【課題】被検査部品の検査を正しく行うことが可能な部品検査装置の提供。【解決手段】本発明は、被検査部品を複数貯留可能な貯留部3を有し、この貯留部3に貯留された被検査部品を第2搬送路4,5に整列させて搬送するフィーダ2と、このフィーダ2の第2搬送路5に連接して設けられるとともに、第2搬送路5を搬送される被検査部品が順次載置されるように回転駆動される回転円盤12と、この回転円盤12上の被検査部品を検査して良品と不良品とに分別する検査部10とを備えている。

請求項（抜粋）：

被検査部品を複数貯留可能な貯留部を有し、この貯留部に貯留された被検査部品を搬送路に整列させて搬送するフィーダと、このフィーダの搬送路に連接されるとともに、搬送路を搬送される被検査部品が順次載置されるように回転駆動される回転体と、この回転体上の被検査部品を検査して良品と不良品とに分別する検査部とを備えていることを特徴とする部品検査装置。

IPC (5件)：

B07C 5/02 , B65G 27/02 , B65G 27/04 , B65G 27/32 , G01B 11/04

FI (5件)：

B07C 5/02 , B65G 27/02 , B65G 27/04 , B65G 27/32 , G01B 11/04 H

Fターム (30件)：

2F065AA22 , 2F065BB05 , 2F065CC25 , 2F065DD00 , 2F065FF01 , 2F065FF61 , 2F065JJ02 , 2F065JJ25 , 2F065KK01 , 2F065PP12 , 2F065QQ25 , 2F065UU04 , 3F037AA09 , 3F037BA03 , 3F037BA07 , 3F037CB03 , 3F037CB05 , 3F037CC05 , 3F079AD01 , 3F079BA06 , 3F079BA11 , 3F079CA18 , 3F079CA21 , 3F079CA23 , 3F079CA41 , 3F079CB31 , 3F079CB35 , 3F079CC01 , 3F079DA03 , 3F079DA15

引用特許：

審査官引用 (5件)

特許第2585133号
特公昭36-013153
特許第2585133号

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