特許
J-GLOBAL ID：200903084650795959
知識作成支援装置及びパラメータ探索方法並びにプログラム製品
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
松井 伸一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-070904
公開番号（公開出願番号）：特開2004-279211
出願日： 2003年03月14日
公開日（公表日）： 2004年10月07日
要約：
【課題】検査・診断装置における検査対象物の正常/異常を判断するのに適した有効特徴量と、その有効特徴量を演算するための諸パラメータを容易に探索・決定することができる装置を提供すること【解決手段】特徴量を演算する際に使用する諸パラメータを探索するパラメータ探索部15と、与えられた正常データと異常データを含むサンプルデータ(1,2)に対し、パラメータ探索部で探索された諸パラメータに基づいて複数の特徴量を演算する特徴量演算部12と、その特徴量演算部により求められた特徴量の演算結果から諸パラメータの良さを評価値として出力する評価部13を備える。パラメータ探索部は、評価部の評価結果を基に再度諸パラメータを探索することで、評価値の高い有効特徴量と、その有効特徴量の諸パラメータを同時に決定することができる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
取得した計測データに対し、フィルタリング処理並びに特徴量抽出処理を行って得られた特徴量データに基づいて、検査対象物が正常か異常かを判断する検査・診断装置における前記検査対象物に適した有効特徴量と、その有効特徴量を演算するための諸パラメータを求める知識作成支援装置であって、
特徴量を演算する諸パラメータを探索する探索部と、
与えられた正常データと異常データを含むサンプルデータに対し、前記探索部で探索された諸パラメータに基づいて複数の特徴量を演算する特徴量演算部と、
その特徴量演算部により求められた特徴量の演算結果から諸パラメータの良さを評価値として出力する評価部を備え、
前記探索部は、評価部の評価結果を基に再度諸パラメータを探索することで、評価値の高い有効特徴量と、その有効特徴量の諸パラメータを同時に決定することができるようにしたことを特徴とする知識作成支援装置。
IPC (3件)：
G01M19/00
, G01H17/00
, G06N3/12
G01M19/00 Z
, G01H17/00 Z
, G06N3/12
2G024AD16
, 2G024BA15
, 2G024BA27
, 2G024CA13
, 2G024FA06
, 2G064AA14
, 2G064AB15
, 2G064AB22
, 2G064CC29
, 2G064CC61
, 2G064DD29
