特許

J-GLOBAL ID：200903084654461966

動きベクトル検出装置

発明者： 小倉 英史 ,  高嶋 昌利 ,  山下 啓太郎
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 杉浦 正知
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-043131
公開番号（公開出願番号）：特開平7-099658
出願日： 1994年02月17日
公開日（公表日）： 1995年04月11日
要約：

【要約】【目的】検出精度を低下させることなく、計算量を削減でき、ハードウェアの簡略化が図れる動きベクトル検出装置を提供する。【構成】基準ブロック及び検査ブロックにおいて、少なくとも2方向の複数の各小ブロックの画像データから、各小ブロックの特徴を示す特徴値を抽出する。この基準ブロックの少なくとも2方向の各小ブロックの特徴を示す特徴値と、検査ブロックの少なくとも2方向の各小ブロックの特徴を示す特徴値との誤差を同時に評価するための評価値を形成し、この評価値を用いて、現フレームの基準ブロックに最も合致する参照フレームの検査ブロックを検出し、動きベクトルを求める。各小ブロックの特徴値を使うことにより、演算量が減らせる。

請求項（抜粋）：

現フレームの画像データから基準ブロックの画像データを取り出す基準ブロック読出手段と、上記基準ブロックを、少なくとも2方向に、複数の小ブロックに分割する基準ブロックの小ブロック化手段と、上記少なくとも2方向の複数の各小ブロックの画像データから、上記少なくとも2方向の各小ブロックの特徴を示す特徴値を抽出する基準ブロックの特徴抽出手段と、参照フレームの画像データから検査ブロックの画像データを取り出す検査ブロック読出手段と、上記参照ブロックを、少なくとも2方向に、複数の小ブロックに分割する検査ブロックの小ブロック化手段と、上記少なくとも2方向の複数の各小ブロックの画像データから、上記少なくとも2方向の各小ブロックの特徴を示す特徴値を抽出する検査ブロックの特徴抽出手段と、上記基準ブロックの少なくとも2方向の各小ブロックの特徴を示す特徴値と、上記検査ブロックの少なくとも2方向の各小ブロックの特徴を示す特徴値との誤差を同時に評価するための評価値を形成する評価値形成手段と、上記評価値形成手段の出力から、現フレームの基準ブロックに最も合致する参照フレームの検査ブロックを検出し、動きベクトルを求める判断手段とを有し、上記参照フレームの検査ブロックを所定のベクトル探査範囲内の全体にわたって動かして、現フレームの基準ブロックに最も合致する参照フレームの検査ブロックを検出するようにした動きベクトル検出装置。