特許
J-GLOBAL ID：200903084671967245
電子部品の外部リード形状検査装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (2件)：
後呂 和男
, ▲高▼木 芳之
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-224033
公開番号（公開出願番号）：特開2004-061460
出願日： 2002年07月31日
公開日（公表日）： 2004年02月26日
要約：
【課題】外部リードが列設される電子部品において、その外部リードの形状の適否を正確に判定し得る装置を提供する。【解決手段】検査装置1は、電子部品を被検査対象として外部リードの形状検査を行うよう構成されており、外部リード2が列設されたリード群4に対してレーザ光を照射するレーザ光照射手段11と、リード群4を通過した通過光をパッケージ部3とは異なる方向に反射させるミラー10が設けられた構成をなしている。ミラー10はリード群4の間に介在し、リード群4を通過する通過光がこのミラー10によって、パッケージ部3とは異なる方向に反射される。そしてその反射先にあるCCDカメラ12により外部リードの外形に関する画像情報が生成されることとなる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
複数の外部リードが本体部より延出し、かつ列設されてなる電子部品を被検査対象として、その外部リードの形状を検査する装置であって、
前記電子部品は、列設された複数の外部リードを備えてそれぞれ構成される2つのリード群を有し、かつそれら2つのリード群は、外部リードの並び面が互いに対向して配置されるものであり、
前記2つのリード群のうち、少なくともいずれか一方のリード群における外部リードの並び面に対して投光する投光手段と、
該投光手段との間で、前記外部リードを挟む位置に設けられ、前記外部リードの間を通過した光を、前記本体部及び他方のリード群とは異なる方向に反射する反射手段と、
該反射手段からの反射光を受光して外部リードの形状に関する形状情報を生成する受光手段と、
その生成された形状情報に基づいて、外部リードの形状の適否を判定する判定手段とを備えたことを特徴とする電子部品の外部リード形状検査装置。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/24 K
, H05K13/08 K
2F065AA51
, 2F065CC27
, 2F065FF04
, 2F065GG04
, 2F065HH03
, 2F065JJ26
, 2F065LL12
, 2F065LL46
, 2F065MM11
, 2F065QQ24
, 2F065QQ31
, 2F065TT03
