特許
J-GLOBAL ID：200903084699950135
液晶表示素子の製造方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
鈴江 武彦
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-244317
公開番号（公開出願番号）：特開平9-090371
出願日： 1995年09月22日
公開日（公表日）： 1997年04月04日
要約：
【要約】【課題】早期に不良品を検出して生産効率を向上させ、生産コストの大幅な削減が可能な液晶表示素子の製造方法を提供することにある。【解決手段】この液晶表示素子の製造方法は、液晶組成物を封入する前に、空セル2の基板間のギャップ検査工程が導入されている。この検査工程では、空セル2がギャップ検査装置1に配置され、空セルの内部より高い気圧を有する気体で空セルの基板の外面から加圧することにより、液晶封入前の空セル2が液晶組成物注入後と同等の状態に加圧され、維持される。また、この空セル2に単色ビームを照射することにより、この単色ビームは2枚の基板でそれぞれ反射され、互いに干渉する。この干渉縞は基板間のギャップ値に依存するため、干渉縞の分布を観測することにより、空セル内のギャップの均一性が検査できる。
請求項（抜粋）：
画素に対応する電極がマトリクス状に対向配置された第1の基板及び第2の基板間に液晶組成物が挟持された液晶表示素子の製造方法であって、第1の基板及び第2の基板を準備する工程と、前記第1及び第2の基板間に所定のギャップを与えてシール部材でシールし、このシール部材の一部に開口部を設け、第1及び第2の基板とシール部材とで包囲されたギャップ領域を規定する工程と、前記シールされた第1及び第2の基板に圧力を与えて前記ギャップ領域に液晶組成物が封入されたと同様の状態に維持し、ギャップ領域のギャップ均一性を検査する工程と、前記ギャップ領域に前記開口部から液晶組成物を封入して、液晶表示素子を製造する工程と、を有する事を特徴とする液晶表示素子の製造方法。
IPC (2件)：
G02F 1/1339 500
, G02F 1/1341
G02F 1/1339 500
, G02F 1/1341
