特許

J-GLOBAL ID：200903084702389784

光散乱式成分濃度測定装置および方法

発明者： ▲とう▼ 暁鳴 ,  上野山 晴三
出願人/特許権者： 株式会社京都第一科学
代理人 (1件)： 青山 葆 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-194653
公開番号（公開出願番号）：特開平7-049309
出願日： 1993年08月05日
公開日（公表日）： 1995年02月21日
要約：

【要約】【目的】 透過性が良好で、光量子エネルギが比較的低い近赤外波長領域の光を使って、非破壊的に被測定物中の成分の濃度を測定することを可能とした光散乱式成分濃度測定装置および方法を提供する。【構成】 近赤外波長領域を含む励起光を被測定物16に照射する光照射部1と、この被測定物16からのラマン散乱光を分光し、受光する受光部2と、このラマン散乱光の光量から被測定物16内の成分の濃度を算出し、算出結果を出力する演算部3とから形成した。

請求項（抜粋）：

近赤外波長を含む励起光を被測定物に照射する光照射部と、この被測定物からのラマン散乱光を分光し、受光する受光部と、このラマン散乱光の強度から被測定物内の成分の濃度を算出し、算出結果を出力する演算部とから形成したことを特徴とする光散乱式成分濃度測定装置。