特許

J-GLOBAL ID：200903084726733010

波形測定システムの周波数特性補正方法および補正装置

発明者： 四蔵 達之
出願人/特許権者： 富士電機株式会社
代理人 (1件)： 山口 巖
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-243832
公開番号（公開出願番号）：特開平6-094754
出願日： 1992年09月14日
公開日（公表日）： 1994年04月08日
要約：

【要約】【目的】波形測定システムの周波数特性が多少悪くても、その周波数応答を補正して正確な時間波形を表示させる。【構成】波形測定システムの出力する電気信号波形を周波数スペクトル波形に変換して出力するフーリエ変換部6と、このフーリエ変換部6の出力波形の各スペクトル成分に波形測定システムの基準周波数に対する応答と各周波数に対する応答との比をそれぞれの周波数に対応させて乗じ、補正された周波数スペクトル波形を出力する補正部7と、この補正部7の出力波形を時間波形に逆フーリエ変換して表示部10に出力する逆フーリエ変換部8とにより波形測定システムの周波数特性補正装置9が構成される。

請求項（抜粋）：

物理量の時間変化を電気信号の時間変化に変換し、その時間波形を表示部に表示する波形測定システムにおける前記電気信号の時間波形をフーリエ変換によって周波数スペクトル波形に変換し、この周波数スペクトル波形の各スペクトル成分に、前記波形測定システムの基準周波数に対する応答と各周波数に対する応答との比をそれぞれの周波数に対応させて乗ずることによって周波数スペクトル波形を補正し、この補正された周波数スペクトル波形を時間波形に逆フーリエ変換して前記表示部に出力することを特徴とする波形測定システムの周波数特性補正方法。