特許
J-GLOBAL ID：200903084744788336
プリント基板およびその基板検査時における位置ずれ検出方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
大原 拓也
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-160946
公開番号（公開出願番号）：特開平9-321496
出願日： 1996年05月31日
公開日（公表日）： 1997年12月12日
要約：
【要約】【課題】 基板検査装置に対する被検査プリント基板の位置ずれを、そのずれ方向を含めて電気的に確実に検出する。【解決手段】 プリント基板10の余白部の所定位置に四角形以上の多角形、好ましくは四角形状の導電膜からなる位置ずれ検出パターン11a,11bを形成するとともに、基板検査装置側にその位置ずれ検出パターンの各辺のほぼ中央部に接触し得るように4つの導電性接触端子12a〜12dを設け、その4つの導電性接触端子間の接続を順次切り替えて導通、非導通を見ることにより、基板検査装置に対するプリント基板の位置ずれを検出する。
請求項（抜粋）：
所定の配線パターンが形成されているプリント基板において、その余白部の所定位置に四角形以上とする多角形状の導電膜からなる位置ずれ検出パターンが形成されていることを特徴とするプリント基板。
IPC (2件)：
FI (2件)：
H05K 13/04 P
, G01R 31/00
