特許

J-GLOBAL ID：200903084754720519

光学的測定装置

発明者： 和田 幸久
出願人/特許権者： 株式会社島津製作所
代理人 (2件)： 鹿島 義雄 ,  甲斐 寛人
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-351336
公開番号（公開出願番号）：特開2006-162332
出願日： 2004年12月03日
公開日（公表日）： 2006年06月22日
要約：

【課題】 粒子が含まれる試料で粒径について迅速かつ簡単に測定が可能な光学的測定装置を提供する。【解決手段】 光源16と、交流電源15と、液体試料を保持する容器11と、光源から光が照射されることによりそれぞれが基本回折光パターンを生じる複数の種類の異なる格子周期を有する回折格子群と、回折格子群の各回折格子を構成するとともに、交流電源から交流電圧を印加することが可能な電極対13a、13b、13d、13e、14a、14b、14d、14eと、各回折格子による回折光を検出する光検出器16とを備え、電極対に交流電圧を印加して液体試料の屈折率分布を変化することにより、回折格子群による基本回折光パターンとは異なる変形回折光パターンを発生させ、変形回折光パターンに基づいて液体試料に関する情報を計測する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

光源と、交流電源と、液体試料を保持する容器と、容器内の液体試料と接する位置に形成され、光源から光が照射されることによりそれぞれが基本回折光パターンを生じる複数の異なる格子周期を有する回折格子群と、回折格子群の各回折格子の少なくとも一部を構成するとともに、交流電源から交流電圧を印加することが可能な電極対と、各回折格子による回折光を検出する光検出器とを備え、 電極対に交流電圧を印加して液体試料の屈折率分布を変化することにより、回折格子群による基本回折光パターンとは異なる変形回折光パターンを発生させ、変形回折光パターンに基づいて液体試料に関する情報を計測することを特徴とする光学的測定装置。

IPC (3件)：

G01N 15/00 ,  G01N 21/41 ,  G01N 21/47

FI (3件)：

G01N15/00 A ,  G01N21/41 Z ,  G01N21/47 A

Fターム (16件)：

2G059AA05 ,  2G059BB04 ,  2G059BB06 ,  2G059BB09 ,  2G059CC19 ,  2G059EE01 ,  2G059EE02 ,  2G059EE04 ,  2G059GG01 ,  2G059GG10 ,  2G059HH02 ,  2G059HH06 ,  2G059JJ05 ,  2G059KK01 ,  2G059KK03 ,  2G059KK04

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 生体高分子の適応度を評価するための方法および装置
  公報種別：公表公報   出願番号：特願平6-515700   出願人：エボテック・バイオシステムズ・ゲゼルシャフト・ミット・ベシュレンクテル・ハフツング