特許

J-GLOBAL ID：200903084770200304

金属帯の光学式欠陥検査方法

発明者： 戸村 寧男
出願人/特許権者： JFEスチール株式会社
代理人 (3件)： 高矢 諭 ,  松山 圭佑 ,  牧野 剛博
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2004-065798
公開番号（公開出願番号）：特開2005-257316
出願日： 2004年03月09日
公開日（公表日）： 2005年09月22日
要約：

【課題】2次元撮像手段を使用して、同一の検出角度で金属帯の表面欠陥を検査できるようにする。【解決手段】長尺方向に搬送される鋼板Sから、2次元CCDカメラ10により検査画像を入力し、該画像に基づいて表面欠陥を検査する際、前記2次元CCDカメラ10を、画素列の走査方向が、前記鋼板Sの幅方向に実質的に一致するように、該金鋼板Sに対向配置すると共に、経時的に異なる時刻で走査して入力された、m列目の特定画素列に対応する単位画像を、前記鋼板Sの長尺方向に合成して、検査画像を作成する。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

長尺の金属帯を撮像手段により撮像した画像に基づいて該金属帯の表面欠陥を検査する光学式欠陥検査方法において、 前記撮像手段を、画素列の走査方向が、前記金属帯の長尺方向に直交する成分を有するように、該金属帯に対向配置すると共に、 経時的に異なる時刻で走査して得た、1列又は2列以上の特定画素列に対応する単位画像を、前記金属帯の長尺方向に合成して、検査画像を作成することを特徴とする金属帯の光学式欠陥検査方法。

IPC (3件)：

G01N21/892 ,  G06T1/00 ,  G06T3/00

FI (3件)：

G01N21/892 B ,  G06T1/00 300 ,  G06T3/00 300

Fターム (13件)：

2G051AA37 ,  2G051AB02 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051CB01 ,  2G051DA06 ,  2G051ED11 ,  5B057AA20 ,  5B057CA12 ,  5B057CB12 ,  5B057CE08 ,  5B057DA03

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 表面欠陥検査方法及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平7-305941   出願人：川崎製鉄株式会社