特許
J-GLOBAL ID：200903084811577663
電子機器診断装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
下田 容一郎 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-090107
公開番号（公開出願番号）：特開平6-300817
出願日： 1993年04月16日
公開日（公表日）： 1994年10月28日
要約：
【要約】【目的】 電子機器を分解せずに調整およびトラブル診断が効率よくできる電子機器診断装置を提供する。【構成】 機能の調整手段9を備える電子機器3と、電子機器3の診断を行う診断手段6を備える診断試験器2とから構成し、電子機器3と診断試験器2にはそれぞれ診断専用の通信手段7、8を備えて診断および調整データを送受信する。
請求項（抜粋）：
電子機器と、診断情報の授受により前記電子機器の診断を行う診断試験器からなる電子機器診断装置において、前記電子機器は機能調整をするための調整手段を備え、前記診断試験器は前記電子機器の診断をする診断手段を備え、前記電子機器と前記診断試験器とを相互に接続して診断専用の送信および受信の通信を行う通信手段を備えるとともに、前記調整手段は、前記診断試験器からの診断情報に基づいて通常の動作モードから調整モードへ切替える調整モード切替手段と、該当する機能を調整するための調整モジュールと、この調整モジュールからの調整状態を検出するセンサと、このセンサ出力を所定のデータに変換するデータ変換部と、前記診断試験器からの診断結果の調整データを記憶する調整データ記憶部とを備え、前記診断手段は、診断順序を指定するシーケンス部と、前記電子機器の該当する診断項目の調整データを記憶する標準データ記憶部と、この標準データ記憶部のデータと前記電子機器からの調整データとを比較する比較手段と、この比較手段の比較結果に基づいて診断の合否を判定する判定手段とを備えたことを特徴とする電子機器診断装置。
引用特許：
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