特許

J-GLOBAL ID：200903084826710823

地絡試験回路内蔵高圧地絡継電器試験回路

発明者： 瀬戸口 博文
出願人/特許権者： 瀬戸口 博文
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-261804
公開番号（公開出願番号）：特開2001-084886
出願日： 1999年09月16日
公開日（公表日）： 2001年03月30日
要約：

【要約】【課題】 従来の高圧地絡開閉器の地絡試験ボタンによる動作試験は、高圧開閉器の引き外しコイルTCの端子VaーVcに電圧を印加して高圧開閉器をトリップさせるが、これは高圧開閉器のトリップ回路の試験であり、保護継電器試験装置を使用して動作試験を実施する回路とは異なるものである。【解決手段】 地絡試験押しボタンで地絡検出用零相変流器の試験回路Kt、Ltへ給電して零相電流を測定することで、点検時には容易に確実に短時間で高圧地絡開閉器と地絡継電器の検査を行え、高圧地絡継電器の損壊が予想されるときはTC引出しコイルのVaーVcを開放して地絡試験押しボタンを使用し地絡継電器の損傷を検知する試験回路である。

請求項（抜粋）：

地絡試験押しボタン(1)で試験端子(7)KtとLtへ給電し、地絡検出用変流器(6)の零相電流の測定をなし、高圧地絡開閉器と地絡継電器の検査を行い、地絡継電器の損壊が予想されるときは、TC引き外しコイル(9)のVaーVc端子を開放して地絡試験押しボタン(1)を使用し地絡継電器の損傷を検知する地絡試験回路内蔵高圧地絡継電器試験回路。

IPC (5件)：

H01H 83/02 ,  G01R 31/00 ,  H01H 83/04 ,  H02H 3/05 ,  H02H 3/34

FI (5件)：

H01H 83/02 E ,  G01R 31/00 ,  H01H 83/04 ,  H02H 3/05 B ,  H02H 3/34 M

Fターム (15件)：

2G036AA20 ,  2G036BA04 ,  2G036BA07 ,  2G036CA06 ,  2G036CA10 ,  5G030FC08 ,  5G030XX17 ,  5G030YY12 ,  5G042FF01 ,  5G042FF07 ,  5G042FF09 ,  5G042FF22 ,  5G058BB02 ,  5G058BD10 ,  5G058CC02