特許

J-GLOBAL ID：200903084839768758

温度サイクル試験装置

発明者： 富澤 睦
出願人/特許権者： キヤノン株式会社
代理人 (1件)： 山下 亮一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-006621
公開番号（公開出願番号）：特開2002-214303
出願日： 2001年01月15日
公開日（公表日）： 2002年07月31日
要約：

【要約】【目的】 安価で取り扱いが容易、且つ、小型化が可能な温度サイクル試験装置を提供すること。【構成】 電子部品6の温度を高温と常温に保持し、この温度差に対する耐性を確認する温度サイクル試験装置を、電子部品6を高温に保持するための加熱用ホットプレート1と、電子部品6をホットプレート1に押し付け又は引き離す単一方向運動機構2と、ホットプレート1から引き離された電子部品6を常温にするための冷却用送風機3と、電子部品6の温度を検出する温度センサ4と、該温度センサ4により検出される電子部品6の温度に基づいて前記単一方向運動機構2と冷却用送風機3を動作させるコントローラ5を含んで構成する。

請求項（抜粋）：

電子部品の温度を高温と常温に保持し、この温度差に対する耐性を確認する温度サイクル試験装置であって、電子部品を高温に保持するための加熱用ホットプレートと、電子部品をホットプレートに押し付け又は引き離す単一方向運動機構と、ホットプレートから引き離された電子部品を常温にするための冷却用送風機と、電子部品の温度を検出する温度センサと、該温度センサにより検出される電子部品の温度に基づいて前記単一方向運動機構と冷却用送風機を動作させるコントローラを含んで構成されることを特徴とする温度サイクル試験装置。

IPC (3件)：

G01R 31/30 ,  F24F 5/00 ,  G01R 31/00

FI (3件)：

G01R 31/30 ,  F24F 5/00 Z ,  G01R 31/00

Fターム (8件)：

2G036AA18 ,  2G036AA28 ,  2G036BB00 ,  2G036CA12 ,  2G132AA00 ,  2G132AB14 ,  2G132AL00 ,  3L054BE10