特許
J-GLOBAL ID：200903084863734384
質量測定法および装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
清水 善▲廣▼
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-088868
公開番号（公開出願番号）：特開平8-043185
出願日： 1995年03月22日
公開日（公表日）： 1996年02月16日
要約：
【要約】【構成】 物体の質量測定を所定時間内に実施する際に生ずる整定時間内の動誤差を最小化するための支持プラットホーム上に配置された該物体の質量Mを測定する方法であって、該プラットホームを振動運動させ、該物体の質量M1 を直接測定するために、該物体が該プラットホーム上に存在する際に、該プラットホームの振動周期の変化を測定し、該物体の質量M2 を間接的に測定するために、該プラットホーム上の該物体の重量を測定し、該測定値M1 及びM2 を組み合わせ、質量測定時間の開始時点における測定値M1 に高い比例係数が又該質量測定時間の終了時点における測定値M2 に高い比例係数が割り当てられるように、該測定値M1 及びM2 に相対的な比例係数を割り当てることにより、該物体の正確な質量Mをこれらの測定値M1 及びM2 から算出する。【効果】 小さな整定時間で質量の測定が可能であるとともに、高い精度が達成されうる。
請求項（抜粋）：
ある物体の質量測定を所定時間内実施する際に生ずる整定時間内の動誤差を最小化するための支持プラットホーム上に配置された該物体の質量Mを測定する方法において、該プラットホームを振動運動させ、該物体の質量M1 を直接測定するために、該物体が該プラットホーム上に存在する際に、該プラットホームの振動周期における変化を測定し、該物体の質量M2 を間接的に測定するために、該プラットホーム上の該物体の重量を測定し、そして、該測定値M1 およびM2 を組み合わせ、質量測定時間の開始時点における測定値M1 に高い比例係数がまた該質量測定時間の終了時点における測定値M2 に高い比例係数が割り当てられるように、該測定値M1 およびM2 に相対的な比例係数を割り当てることにより、該物体の正確な質量Mをこれらの測定値M1 およびM2 から算出する、ことを特徴とする上記質量Mの測定方法。
IPC (2件)：
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