特許
J-GLOBAL ID：200903084868433234
アクティブマトリクス基板及び該基板の検査方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
梅田 勝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平7-343077
公開番号（公開出願番号）：特開平9-097910
出願日： 1995年12月28日
公開日（公表日）： 1997年04月08日
要約：
【要約】【課題】 検査後に於いても、絶縁膜の破壊を防止することができるアクティブマトリクス基板及び該基板の検査方法を提供する。【解決手段】 ゲートラインブロック13及びソースラインブロック14間の短絡部材11が、前記両ブロック間に於いて、レーザ照射によって短絡状態から絶縁状態となる第1部分111と、レーザ照射によって絶縁部分から短絡部分となる第2部分112とを並列に有する。
請求項（抜粋）：
表示素子駆動用のTFTがマトリクス状に形成されたアクティブマトリクス基板であって、前記TFTのゲートラインブロック及びソースラインブロック間を短絡する短絡部材を備えたアクティブマトリクス基板に於いて、前記短絡部材が、前記ゲートラインブロック及びソースラインブロック間に於いて、レーザ照射によって短絡状態から絶縁状態となる第1部分と、レーザ照射によって絶縁状態から短絡状態となる第2部分とを並列的に有することを特徴とするアクティブマトリクス基板。
FI (2件)：
H01L 29/78 612 A
, H01L 29/78 624
