特許
J-GLOBAL ID：200903084927108881
光CT或いは光PDの計測回路
発明者：
出願人/特許権者：
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-280502
公開番号（公開出願番号）：特開平6-109773
出願日： 1992年09月25日
公開日（公表日）： 1994年04月22日
要約：
【要約】【目的】センサ部及びセンサ部と計測部との間をリンクする光ファイバに於ける光損失並びにその非周期的変動による影響を除去し、高精度に電流或いは電圧を計測すること及びセンサ部の互換性の実現を可能とした光CT或いは光PDの計測回路を比較的安価に提供することを目的とする。【構成】測定する電流もしくは電圧の周波数f0より充分に高い周波数f1の信号により発光部2を駆動し、偏光子5、磁気光学素子6及び検光子7から成るセンサ部4に前記発光部2より出力される光線を入射せしめ、該センサ部4を透過した光線を受光部9にて電気信号に変換し、利得可変増幅器20によって前記電気信号を該電気信号に含まれる周波数f1の成分が所定のレベルを保持するよう増幅するものである。
請求項（抜粋）：
磁気光学素子を備えた光CT或いは光PDに於いて、測定する電流もしくは電圧の周波数f0より高い周波数f1にて発光手段を駆動し、該発光手段より発光する光線を偏光子を介して前記磁気光学素子に入射せしめ、該磁気光学素子を透過した光線を検光子を介して受光手段にて受光し、利得可変増幅器にて前記受光手段からの出力を該出力に含まれる周波数f1の成分が所定のレベルとなるよう増幅したことを特徴とする光CT或いは光PDの計測回路。
IPC (2件)：
引用特許：
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