特許

J-GLOBAL ID：200903084952697760

不良解析装置

発明者： 松下 敦幸
出願人/特許権者： 株式会社日立製作所
代理人 (1件)： 小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-302000
公開番号（公開出願番号）：特開2000-131242
出願日： 1998年10月23日
公開日（公表日）： 2000年05月12日
要約：

【要約】【課題】製造工程の検査作業において、スキャナ、デジタルカメラ等で検査対象の現品から作成した、ビットマップファイル等のイメージ画像データと、CAD等から作成した座標データに組み合わせ、検査対象物のイメージ画像を表示した画面上の不良箇所をタッチモニタやマウス等で指示入力することにより、不良データを作成記録する、ビジュアルな不良データの入力手段の提供と、記録した不良データを集計し、前記イメージ画像上へ部品毎の不良発生度数分布を表示する等のビジュアルな解析結果出力と、重点検査箇所の指示による品質向上を特徴とする不良解析方式。【解決手段】デジタルカメラ等を使用して短時間に作成したイメージ画像データ、座標データ、重点検査部品データを組合せて、コンピュータ画面へ実物のイメージ画像とその上に重点検査部品を表示し、不良発見後、画面上の不良箇所を指示入力することにより不良解析を実施する。

請求項（抜粋）：

製造工程の検査作業において、スキャナ、デジタルカメラ等で検査対象の現品から作成した、ビットマップファイル等のイメージ画像データと、CAD等から作成した座標データを組み合わせることにより、検査対象箇所をイメージ画像で表示し、そのイメージ画像から直接不良箇所をタッチモニタやマウス等で指示入力することにより、不良箇所のロケーション、不良内容等で構成する不良データを作成記録するビジュアルな不良データの入力手段提供と、取り込んだ不良データを統計的に集計し、前記イメージ画像の上に部品毎の不良発生度数分布、不良内容等を表示するビジュアルな解析結果出力が得られることを特徴とする不良解析装置。

IPC (2件)：

G01N 21/88 ,  H05K 13/08

FI (2件)：

G01N 21/88 J ,  H05K 13/08 Q

Fターム (9件)：

2G051AA65 ,  2G051AB14 ,  2G051AC22 ,  2G051CA03 ,  2G051CA11 ,  2G051EA14 ,  2G051EA16 ,  2G051EC02 ,  2G051FA10