特許
J-GLOBAL ID：200903084969368905
インダクタンス測定用端子及び測定装置
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
森下 武一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-066632
公開番号（公開出願番号）：特開平5-273235
出願日： 1992年03月25日
公開日（公表日）： 1993年10月22日
要約：
【要約】【目的】 微小インダクタンスを正確に測定することのできる測定用端子及び測定装置を得る。【構成】 測定用端子1,25はシールド面1c,25cを有する。また、他の端子5,11,15,21はシールド面5c,11c,15c,21c上に突部5d,11d,15d,21dを有する。これらの端子は一対で使用され、チップインダクタの電極が、端子1,25にあってはシールド面1c,25cと接触し、端子5,11,15,21にあっては突部5d,11d,15d,21dと接触する。端子の一方は信号ラインコンダクタに着脱可能に取り付けられ、他方はグランドラインコンダクタに着脱可能に取り付けられる。
請求項（抜粋）：
インダクタンス部品に設けた一対の電極にそれぞれ接触してインダクタンスを測定するための端子において、インダクタンス部品の電極への接触部分あるいは近接部分に、少なくとも電極と同じ面積を有するシールド面を備えたこと、を特徴とするインダクタンス測定用端子。
IPC (4件)：
G01R 1/073
, G01R 27/26
, H01F 15/10
, H01F 41/00
