特許

J-GLOBAL ID：200903085024193587

検査方法および装置

発明者： 山本 秀典 ,  添田 正彦
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-071375
公開番号（公開出願番号）：特開2003-270163
出願日： 2002年03月15日
公開日（公表日）： 2003年09月25日
要約：

【要約】【課題】撮像条件や照明条件の最適設定について、未熟なオペレータであっても適正に行なうことが容易であり、負荷が極めて小さい検査方法および装置を提供する。【解決手段】撮像条件と照明条件を変化させて条件設定用物品を撮像して得た複数の撮像画像に基づいて評価値を最適化する撮像条件と照明条件を演算し、その演算された撮像条件と照明条件において検査対象物品の検査を行なうようにした検査方法およびその方法を適用した装置。

請求項（抜粋）：

撮像条件と照明条件を変化させて条件設定用物品を撮像して得た複数の撮像画像に基づいて評価値を最適化する撮像条件と照明条件を演算し、その演算された撮像条件と照明条件において検査対象物品の検査を行なうことを特徴とする検査方法。

IPC (3件)：

G01N 21/88 ,  G06T 1/00 300 ,  H04N 7/18

FI (3件)：

G01N 21/88 Z ,  G06T 1/00 300 ,  H04N 7/18 B

Fターム (23件)：

2G051AB02 ,  2G051AC01 ,  2G051AC11 ,  2G051BB01 ,  2G051CA04 ,  2G051CA06 ,  2G051EA11 ,  2G051EA14 ,  5B057AA02 ,  5B057BA02 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DB06 ,  5B057DB09 ,  5B057DC22 ,  5C054AA01 ,  5C054CF06 ,  5C054CH02 ,  5C054EA01 ,  5C054FC11 ,  5C054GB01 ,  5C054GD03 ,  5C054HA05