特許

J-GLOBAL ID：200903085025778643

寸法検査システム

発明者： 五十川 治男
出願人/特許権者： 石川島播磨重工業株式会社
代理人 (1件)： 志賀 正武 (外2名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-133697
公開番号（公開出願番号）：特開平6-347231
出願日： 1993年06月03日
公開日（公表日）： 1994年12月20日
要約：

【要約】【目的】 あらゆる形状の部品の寸法を少ない工数で精密に検査するとともに、検査結果に応じて自動的に加工装置を制御する。【構成】 まず、処理装置5において、記憶装置6から読み出した図面データと測定装置3から出力される測定データとから、基点P1,P2に対応する加工面S1’,S2’と基点P1,P2を通る直線SV’との交点間の距離(測定寸法L’)が算出され、この測定寸法L’と基準寸法Lとの寸法誤差が算出される。また、予め設定された寸法計測面S2,S3と加工面S2’,S3’との位置関係から加工座標系(MX,MY,MZ)における加工誤差ΔX,ΔYが算出され、これらの加工誤差を打ち消す補正量を寸法指令に加算する。これにより、寸法誤差が小となる。

請求項（抜粋）：

複数の加工面から構成される部品の寸法を検査する寸法検査システムであって、対をなす基点の位置情報と前記部品の第1の基準面に関する情報とを有する図面データを記憶する記憶手段と、予め設定された第2の基準面に対応する前記加工面の位置を測定する測定手段と、前記対をなす基点に対応する前記加工面と前記対をなす基点を通る直線との交点間の距離を測定寸法とし、前記基点間の距離である基準寸法と前記測定寸法との寸法誤差を算出するとともに、前記第2の基準面と前記加工面との位置関係から加工座標系におけるズレ量を算出し、当該ズレ量を打ち消す補正量を図面データに基づいた寸法指令に加える検査手段と、前記寸法指令に基づいて前記部品を所定の形状に加工する加工装置とを具備することを特徴とする寸法検査システム。

IPC (3件)：

G01B 11/24 ,  B23Q 15/04 ,  B23Q 17/20

引用特許：

審査官引用 (4件)

• 特開平3-202252
  
• 特開平1-240807
  
• 特開平3-202252
  
• 特開平1-240807