特許
J-GLOBAL ID:200903085065873894
MRI装置におけるスライス位置指定方法
発明者:
出願人/特許権者:
,
代理人 (1件):
三好 秀和 (外3名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平5-223674
公開番号(公開出願番号):特開平6-189934
出願日: 1993年09月08日
公開日(公表日): 1994年07月12日
要約:
【要約】【目的】 湾曲部位に対して所定角度のスライス位置を求めることが簡単且つ確実に行えるMRI装置におけるスライス位置指定方法を提供することにある。【構成】 現在表示されている湾曲部位の画像を用いてその湾曲部位に沿って撮影したい位置を点ROIで指定し、各点ROIを通る所定の曲線を求め、点ROIの指定位置毎に曲線に対する所定角度の直線を求め、各直線をスライス位置としてそれぞれ指定する。各点ROIを正確に通る直線を求めることができないときには、フィッティング曲線が引かれる。この場合、直線は点ROIを通るようにそれぞれ引かれる。
請求項(抜粋):
(a)磁気共鳴イメージング撮影して求めた被検体の湾曲部位の画像を画面上に表示するステップと、(b)現在表示されている被検体の湾曲部位に沿って撮影したい位置を順次指定するステップと、(c)前記複数の撮影したい位置を通り前記湾曲部位に沿う所定の曲線を求めるステップと、(d)前記曲線に対する所定角度の直線を求めるステップと、(e)前記湾曲部位の画像に前記直線を重ねて表示し、これらの直線をスライス位置として指定するステップとを有することを特徴とするMRI装置におけるスライス位置指定方法。
IPC (3件):
A61B 5/055
, G01R 33/48
, G06F 15/62 390
FI (3件):
A61B 5/05 370
, A61B 5/05 380
, G01N 24/08 Y
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