特許
J-GLOBAL ID：200903085071788548
放射線検査装置及びそれを用いた検査システム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小川 勝男
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-082330
公開番号（公開出願番号）：特開平9-274083
出願日： 1996年04月04日
公開日（公表日）： 1997年10月21日
要約：
【要約】【課題】本発明の目的は、大型構造物を高速,高感度に撮像可能にする高エネルギーX線検査装置とそのシステムを提供することである。【解決手段】加速器で発生させるファン状の放射線の放射角度に実質的に平行に貫通させた複数の細孔を有する2次元コリメータと前記細孔に入射してきた放射線を検出するための複数のシンチレーション検出器を設置し、その光出力を光学的に伝送して撮像する。
請求項（抜粋）：
放射線発生装置と、前記放射線発生装置から被検体に照射したファン状放射線を検出し、光に変換する放射線検出手段を有する放射線検査装置において、前記放射線検出手段は前記ファン状放射線の放射角度に実質的に平行に貫通させた複数の細孔を有する2次元コリメータと、前記複数の細孔に入射してきた放射線を検出する複数のシンチレータを有することを特徴とする放射線検査装置。
IPC (4件)：
G01T 1/20
, G01N 23/04
, G01N 23/18
, G01T 7/00
G01T 1/20 Z
, G01N 23/04
, G01N 23/18
, G01T 7/00 B
