特許

J-GLOBAL ID：200903085092912109

回路定数測定装置の校正方法

発明者： 米倉 隆典 ,  若松 秀樹
出願人/特許権者： 横河・ヒューレット・パッカード株式会社
代理人 (1件)： 遠藤 恭
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-352215
公開番号（公開出願番号）：特開平7-198766
出願日： 1993年12月28日
公開日（公表日）： 1995年08月01日
要約：

【要約】【目的】高いQの回路素子を高周波帯でインピーダンス測定する分野において、位相角の測定確度を向上させる簡便な校正方法を提示する。【構成】測定系の誤差を開放、短絡、有限インピーダンスの標準を用いて校正し、測定値を補正する方法において、有限インピーダンス標準器をインピーダンスの絶対値は値付けされているが位相角が不確かな標準器およびインピーダンスの絶対値は不確かであるが位相角が値付けされている標準器で構成する。実施例では、インピーダンスの絶対値が値付けされている標準器は従来の抵抗標準器であるが、位相角が値付けされている標準器は、損失の小さい構造の空気キャパシタで実現する。

請求項（抜粋）：

測定系の誤差を開放、短絡、有限インピーダンスの標準を用いて校正し、測定値を補正する方法において、有限インピーダンス標準器をインピーダンスの絶対値は値付けされているが位相角が不確かな標準器とインピーダンスの絶対値は不確かであるが位相角が値付けされている標準器に分けることによって高い精度の補正を行うことを特徴とする回路定数測定装置の校正方法。