特許
J-GLOBAL ID：200903085132968617
光応用センサ
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
木内 光春
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-333196
公開番号（公開出願番号）：特開平7-191061
出願日： 1993年12月27日
公開日（公表日）： 1995年07月28日
要約：
【要約】【目的】 高精度で広いダイナミックレンジを有する光応用センサを提供する。【構成】 SLD1aからの光は、偏光子3aで直線偏光にされた後、ファイバカプラ4aで2分割される。一方の分割光は、位相変調子6aによって鋸波形の変調を受け、λ/4板8aによって円偏光にされた後、導体12に巻き付けられたファイバ11を通ってファラデー回転する。この光はさらに、λ/4板7aによって直線偏光にされ、位相変調子5aによって波形の変調を受けた後、ファイバカプラ4aに再び入射する。他方の分割光は、逆回りでファイバカプラ4aに再び入射する。ファイバカプラ4aで再結合した光は検出器13に入射する。信号処理装置14により、位相変調子6aを駆動制御して鋸波形の周波数を変化させ、この周波数に基づいて被測定電流値を計測する。
請求項（抜粋）：
被測定磁界または被測定電流によって誘起される磁界の影響を受ける位置に配置されたファラデー素子と、光源と、光源から発せられた光を2つに分離し、分離した光を前記ファラデー素子にそれぞれ結合する分離手段と、ファラデー素子から出射した2つの光を再結合する結合手段と、結合した光を検出して光電変換する検出手段とを備えた光学装置と、前記検出手段によって得られた電気信号を処理して前記2つの光の位相差を検出し、この位相差から磁界または電流を測定する信号処理装置とを有する、干渉型の光応用センサにおいて、前記光学装置が、通過する光に鋸波形の変調をかける位相変調手段をさらに備え、この位相変調手段が前記分離手段によって分岐形成された2つの光路の少なくとも一方に挿入され、前記信号処理装置として、前記位相変調手段を駆動制御する駆動制御装置を兼ねたセロダイン方式による信号処理装置を使用することを特徴とする光応用センサ。
IPC (3件)：
G01R 15/24
, G01R 33/032
, G02F 1/09 505
