超音波による試験体の劣化度評価方法及び評価装置

発明者： , ,
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：北村光司
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平8-093496
公開番号（公開出願番号）：特開平9-257754
出願日： 1996年03月22日
公開日（公表日）： 1997年10月03日
要約：

【要約】【課題】水素侵食等による試験体の劣化度をより確実に評価することの可能な評価方法及びその評価装置を提供すること。【解決手段】試験体内に発信された超音波のうち後方散乱波E2を探触子により受信し、この後方散乱波E2について適宜時間間隔のゲートG1〜G5毎に周波数スペクトルを求める。そして、これら各ゲートG1〜G5毎の周波数スペクトルにおける特徴量により前記試験体の劣化度の分布を評価する。水素侵食等が局所的に進行する場合でも、大部分の健全部によって判断材料となる特徴量の影響が薄められることなく、試験体の劣化度をより確実に評価することが可能となった。特徴量としては、各ゲート毎の周波数スペクトルにおける周波数毎の強度とその周波数との積を積分した値を、周波数スペクトルの積分値で除することにより得られる一次モーメントや、各ゲート毎の周波数スペクトルにおける劣化種類により定まる特定領域の積分値を採用してもよい。

請求項（抜粋）：

試験体(S)内に発信された超音波のうち後方散乱波(E2)を探触子(21)により受信し、この後方散乱波(E2)について適宜時間間隔のゲート(G1〜G5)毎に周波数スペクトルを求め、これら各ゲート(G1〜G5)毎の周波数スペクトルにおける特徴量(M,A1)により前記試験体(S)の劣化度の分布を評価する超音波による試験体の劣化度評価方法。

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