特許
J-GLOBAL ID：200903085142586798

記録装置およびチェックパターン記録方法

発明者：
森山 次郎

森山 次郎 について


出願人/特許権者：
キヤノン株式会社

キヤノン株式会社 について


代理人 (1件)： 谷 義一 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-077633
公開番号（公開出願番号）：特開平10-264485
出願日： 1997年03月28日
公開日（公表日）： 1998年10月06日
要約：
【要約】【課題】 記録装置における複数の記録ヘッド間のレジ調整用のチェックパターン記録に関するコストを低減する。【解決手段】 600dpi×600dpiの低解像度条件でのレジ調整用チェックパターンを記録媒体の略中央部に記録し、このパターンに基づくレジ調整を行った後、上記チェックパターンと干渉しない位置に1200dpi×600dpiの高解像度条件でのチェックパターンを記録し、これに基づいて再度レジ調整を行う。これにより、必要な2つのチェックパターンを1枚の記録媒体に記録でき、チェックパターン記録に用いられる記録媒体に関するコストを低減できる。
請求項（抜粋）：
記録ヘッドを用い、記録媒体に記録を行う記録装置であって、前記記録装置の所定の機能を検査するためのチェックパターンを記録媒体に記録するパターン記録手段と、前記所定の機能の設定に関する設定情報に基づいて前記所定の機能を設定する設定手段と、前記パターン記録手段により第1のチェックパターンを記録させ、前記設定手段に、該第1チェックパターンに基づいて入力される設定情報に基づいて前記所定の機能を設定させ、該所定の機能が設定された条件で前記パターン記録手段に第2チェックパターンを記録させる制御手段と、を具えたことを特徴とする記録装置。
IPC (3件)：
B41J 29/46 ,  B41J 2/01 ,  B41J 19/18
FI (3件)：
B41J 29/46 A ,  B41J 19/18 E ,  B41J 3/04 101 Z
引用特許：
審査官引用 (4件)
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