特許
J-GLOBAL ID：200903085154707400

バイオメトリックデバイスに対するエラーレートを求めるための方法および装置

発明者：
クルト ヘッシュグル

クルト ヘッシュグル について

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マンフレート ブロンバ

マンフレート ブロンバ について

, 
ディートマー ゲセリンガー

ディートマー ゲセリンガー について


出願人/特許権者：
シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト

シーメンス アクチエンゲゼルシヤフト について


代理人 (5件)： 矢野 敏雄 ,  山崎 利臣 ,  久野 琢也 ,  アインゼル・フェリックス=ラインハルト ,  ラインハルト・アインゼル
公報種別：公表公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-547090
公開番号（公開出願番号）：特表2004-515014
出願日： 2001年11月27日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：
バイオメトリックデバイス(BER)のエラーレートを求めるために、データベース(DAB)内に複数の外部特徴セットが記憶され、それらがテスト過程において正当者の特徴セットと比較され、その結果から正当者に対する個人的なエラーレート(FAR、FRR)を求めるようにした。
請求項（抜粋）：
入力要求の際に少なくとも1つのバイオメトリックセンサ(SEN)を用いて入力された人間の生物測定学的特徴(MB)と、特徴セットとして記憶されている正当者の特徴(MB)とが一致した場合に、アクセスが許可され、一致しなかった場合にはアクセスが拒否され、この場合エラーレートを求めるために、正当者の現下の生物測定学的特徴(MB)が、複数(n)の外部の生物測定学的特徴(Mi)に対してテストされ、エラーレートが、不当者に対するアクセス許可の頻度と正当者に対する拒絶の頻度とによって定められる、バイオメトリックデバイス(BER)に対するエラーレート(FAR,FRR)を求めるための方法において、 バイオメトリックデバイス(BER)において、複数(n)の外部特徴セットが含まれているデータベース(DAB)の適用下で、テスト過程が、前記の外部特徴セットと、正当者の現下の特徴が記憶されている特徴セットとの比較で実施され、この結果から正当者に対する個人的なエラーレート(FAR、FRR)が求められるようにしたことを特徴とする方法。
IPC (3件)：
G06T7/00 ,  A61B5/117 ,  G06F15/00
FI (4件)：
G06T7/00 510A ,  G06F15/00 330F ,  A61B5/10 320Z ,  A61B5/10 322
Fターム (10件)：
4C038FF01 ,  4C038FF05 ,  4C038VA07 ,  4C038VB03 ,  4C038VB40 ,  4C038VC05 ,  4C038VC20 ,  5B043BA02 ,  5B043CA06 ,  5B085AE25
引用特許：
審査官引用 (4件)
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