特許
J-GLOBAL ID：200903085180425501
テスト用端子
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
志賀 富士弥 (外3名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平9-299744
公開番号（公開出願番号）：特開平11-133060
出願日： 1997年10月31日
公開日（公表日）： 1999年05月21日
要約：
【要約】【課題】 素子の端子部のピッチ間隔が如何様に微細となる場合でも、それに対処できるテスト用端子を提供する。【解決手段】 導通線を接続する結線部6を備えた上部2と、弾性を有する中間部5と、接触部4を有する下部3とからなるテスト用端子1を、1枚の金属薄板から打ち抜き成形する。複数枚のテスト用端子1を絶縁板9を介在して重ね合わせ一体化して端子ブロックを形成できる。金属薄板の肉厚を選択することにより如何様なピッチ間隔にも対応できる。
請求項（抜粋）：
導通線に接続する結線部を具えた上部と、端子部に接触する接触部を具えた下部と、前記上部と下部との間で上下方向で弾性を保持可能な中間部とが、金属薄板で一体成形されていることを特徴とするテスト用端子。
IPC (5件)：
G01R 1/073
, G01R 1/067
, G01R 31/02
, H01L 21/66
, H05K 10/00
G01R 1/073 D
, G01R 1/067 C
, G01R 31/02
, H01L 21/66 B
, H05K 10/00
