特許

J-GLOBAL ID：200903085194729597

光線路試験装置

発明者： 上野 美明 ,  三川 泉 ,  古川 眞一 ,  小山田 弥平
出願人/特許権者： 日本電信電話株式会社
代理人 (1件)： 吉田 精孝
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平5-039872
公開番号（公開出願番号）：特開平6-249746
出願日： 1993年03月01日
公開日（公表日）： 1994年09月09日
要約：

【要約】【目的】 複数試験の並列実行を可能として試験時間の短縮化を図れる光線路試験装置を提供すること。【構成】 光線路1を構成する各光ファイバ2に光カプラ4を挿入し、各光カプラ4に複数入・出力の光マトリクススイッチ5を介して複数の光試験部6を接続すると共に、光マトリクススイッチ5及び各光試験部6を制御し複数試験を時分割処理で実行可能な試験制御部7を設けているので、複数の光ファイバ2に対して試験を並列して実行でき、試験時間の大幅短縮を実現できる。

請求項（抜粋）：

複数の光ファイバで構成された光線路の試験を行う光線路試験装置において、各光ファイバに光カプラを挿入し、各光カプラに複数入・出力の光マトリクススイッチを介して複数の光試験手段を接続すると共に、光マトリクススイッチ及び各光試験手段を制御し複数試験を時分割処理で実行可能な試験制御手段を設けた、ことを特徴とする光線路試験装置。