アンモニウムイオン測定装置

発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：藤本英夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-315489
公開番号（公開出願番号）：特開2000-146899
出願日： 1998年11月06日
公開日（公表日）： 2000年05月26日
要約：

【要約】【課題】アルカリ金属イオン等の干渉影響をなくし、マスキング等の前処理なしで直接電極を試料に浸漬してアンモニウムイオンを簡単に測定する。【解決手段】比較電極内部液3,比較電極内極4およびpH測定用のガラス電極5を内部に収容した筒状のセンサボディ2と、センサボディ2の端部開口側でガラス電極5の応答膜7に当接した状態で設けられ,アンモニアガスを透過させる隔膜10と、隔膜10の試料側に設けられ,かつ,アルカリ緩衝能の強い試薬を含有し,試料中のアンモニウムイオンをアンモニアガスに置換させるイオン透過性の薄膜11とを備える。

請求項（抜粋）：

比較電極内部液,比較電極内極およびpH測定用のガラス電極を内部に収容した筒状のセンサボディと、前記センサボディの端部開口側で前記ガラス電極の応答膜に当接した状態で設けられ,アンモニアガスを透過させる隔膜と、当該隔膜の試料側に設けられ,かつ,アルカリ緩衝能の強い試薬を含有し,試料中のアンモニウムイオンをアンモニアガスに置換させるイオン透過性の薄膜とを備えたことを特徴とするアンモニウムイオン測定装置。

IPC (2件)：

G01N 27/404 , G01N 27/416

FI (2件)：

G01N 27/30 341 G , G01N 27/46 376

引用特許：

審査官引用 (6件)

特開昭60-188838
ガラス電極
公報種別：公開公報出願番号：特願平8-255598 出願人：株式会社堀場製作所
特開昭61-258160

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