特許
J-GLOBAL ID:200903085223632212

指紋画像照合方法及び装置及びこの方法を記録した記録媒体

発明者:
出願人/特許権者:
代理人 (1件): 志賀 富士弥 (外1名)
公報種別:公開公報
出願番号(国際出願番号):特願平11-246890
公開番号(公開出願番号):特開2001-076142
出願日: 1999年09月01日
公開日(公表日): 2001年03月23日
要約:
【要約】【課題】 指紋紋様への一意な座標系の定義や指先固定ガイドを不要とし、指紋紋様全てに対応し、利便性に富む簡易な指紋画像照合方法、装置を提供する。【解決手段】 指紋センサ1から画像情報記憶装置2に記憶された被検査指紋画像に対し、前処理回路3にて登録指紋画像に2値化、細線化等の前処理を行う。次に、特徴量抽出回路4にて任意座標系を基準に、2つの端点や分岐点等の任意の指紋特徴点間の距離と、各特徴点から指紋隆線を辿って形成される、相対応する各々の指紋特徴点のベクトルの前記座標系に対する角度の差を照合特徴量として抽出する。同様の方法で、予め登録指紋画像の照合特徴量を抽出し特徴量情報記憶装置6に登録しておく。照合判定回路5により、上記の被検査指紋画像の照合特徴量と予め登録された登録指紋画像の照合特徴量との一致率を算出し、一致/不一致を閾値で判定して、出力装置7に出力する。
請求項(抜粋):
入力された被検査指紋画像の特徴量と、予め登録された登録指紋画像の特徴量を照合し、前記被検査指紋画像の適否を判断する指紋画像照合方法において、前記登録の際、入力された登録指紋画像に前処理を行う登録指紋画像の前処理ステップと、前記前処理を行った登録指紋画像から、任意の座標系を基準にした任意の2つの指紋特徴点間の距離と、前記2つの指紋特徴点の各々の指紋特徴点から指紋隆線をたどることにより形成される、前記座標系に対する各々の指紋特徴点のベクトルの前記座標系に対する角度の差を成分として持つ特徴量を抽出する登録指紋画像の特徴量抽出ステップと、前記抽出された登録指紋画像の特徴量を登録しておく登録指紋画像の特徴量登録ステップと、前記照合の際、前記被検査指紋画像に前処理を行う被検査指紋画像の前処理ステップと、前記前処理を行った被検査指紋画像から、任意の座標系を基準にした任意の2つの指紋特徴点間の距離と、前記2つの指紋特徴点の各々の指紋特徴点から指紋隆線をたどることにより形成される、前記座標系に対する各々の指紋特徴点のベクトルの前記座標系に対する角度の差を成分として持つ特徴量を抽出する被検査指紋画像の特徴量抽出ステップと、前記登録指紋画像の特徴量に対する、前記被検査指紋画像から抽出した特徴量の一致率を算出し、前記一致率により前記照合を行う照合判定ステップとを、有することを特徴とする指紋画像照合方法。
IPC (2件):
G06T 7/00 ,  A61B 5/117
FI (2件):
G06F 15/62 460 ,  A61B 5/10 322
Fターム (8件):
4C038FF01 ,  4C038FF05 ,  4C038FG00 ,  5B043BA02 ,  5B043EA04 ,  5B043EA06 ,  5B043EA08 ,  5B043GA02

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