特許
J-GLOBAL ID：200903085230155667

マイクロ磁化解析プログラムおよび解析装置

発明者：
清水 香壱

清水 香壱 について


出願人/特許権者：
富士通株式会社

富士通株式会社 について


代理人 (2件)： 大菅 義之 ,  久木元 彰
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2003-332526
公開番号（公開出願番号）：特開2005-100067
出願日： 2003年09月24日
公開日（公表日）： 2005年04月14日
要約：
【課題】 マイクロ磁化解析の精度を向上させる。【解決手段】 微小分割要素の中心に割り当てられるマイクロ磁化と、要素の辺、または節点に割り当てられるベクトルポテンシャルとのパラメータの入力を受け取る手順1と、マイクロ磁化に対する外部磁界を与える磁場方程式を作成する手順2と、該磁場方程式の解を求める手順3と、該解を用いてLLG方程式の時間積分を求める手順4と、手順4で求められたマイクロ磁化が収束条件を満足するかを判定する手順5と、満足しない時、磁場方程式を修正して時刻をステップ的に増加させる手順6と、前記手順3以降を繰返す処理繰返し手順とを計算機に実行させる。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
解析対象領域を微小分割した要素の中心に割り当てられるマイクロ磁化ベクトルのパラメータ、および要素の辺、または節点に割り当てられるベクトルポテンシャルのパラメータの入力を受け取る手順と、 該入力されたパラメータを用いて、マイクロ磁化に対する外部磁界を与える磁場方程式を作成し、時刻を初期化する手順と、 該磁場方程式の解を求める手順と、 該解を非定常のLLG方程式に対する外部磁界として、該LLG方程式の時間積分を求める手順と、 該時間積分によって求められたマイクロ磁化が収束条件を満足するか否かを判定する手順と、 該収束条件を満足しない時、該求められたマイクロ磁化を用いて前記磁場方程式を修正し、時刻をステップ的に増加させる手順と、前記磁場方程式の解を求める手順以降を繰返す処理繰り返し手順とを計算機に実行させるためのマイクロ磁化解析プログラム。
IPC (1件)：
G06F17/13
FI (1件)：
G06F17/13
Fターム (2件)：
5B056BB03 ,  5B056HH07
引用特許：
審査官引用 (4件)
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引用文献：
審査官引用 (1件)

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