特許
J-GLOBAL ID：200903085261128099
液晶表示素子の画素欠陥を検出する方法
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
草野 卓 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-320233
公開番号（公開出願番号）：特開平5-158056
出願日： 1991年12月04日
公開日（公表日）： 1993年06月25日
要約：
【要約】【目的】 液晶注入前の工程でアクティブスイッチマトリックス液晶表示素子の欠陥画素を検出する。【構成】 液晶注入前の被試験素子の各画素を画像表示モードで選択的に駆動し、それら各画素が接続される共通接地端子Gに直流又は方形波信号を入力し、映像入力端子INに出力される信号の各画素に対応した振幅値を検出し、その振幅値より画素欠陥を検出する。この方法は液晶注入後の試験に用いることもできる。
請求項（抜粋）：
アクティブスイッチマトリックス方式の液晶表示素子の画素欠陥を検出する方法において、被試験素子の各画素を画像表示モードで選択的に駆動し、それら各画素が接続される共通接地端子に直流又は水平ドットクロックに同期した方形波信号を入力し、映像入力端子に出力される信号の各画素に対応した振幅値を検出し、その振幅値より液晶表示素子の画素欠陥を検出する方法。
IPC (4件)：
G02F 1/1343
, G02F 1/13 101
, G02F 1/133 505
, G02F 1/133 550
