特許

J-GLOBAL ID：200903085316307885

印刷版検査装置

発明者： 佐藤 博
出願人/特許権者： 大日本印刷株式会社
代理人 (1件)： 金山 聡
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2001-296230
公開番号（公開出願番号）：特開2003-094595
出願日： 2001年09月27日
公開日（公表日）： 2003年04月03日
要約：

【要約】【課題】画像における輪郭部分に発生する欠陥についても検出することができる印刷版検査装置を提供する。【解決手段】検査対象となる印刷版を撮像して得た検査対象画像と、前記印刷版に形成されている画像に対応する検査基準画像とから、(基準-対象)差分画像、(対象-基準)差分画像、検査基準エッジ膨張画像、検査対象エッジ膨張画像を生成し、前記(基準-対象)差分画像を前記検査対象エッジ膨張画像でマスク処理した(基準差分-対象膨張)マスク済み画像において顕在化する汚れ欠陥を検出する汚れ欠陥検出処理部と、前記(対象-基準)差分画像を前記検査基準エッジ膨張画像でマスク処理した(対象差分-基準膨張)マスク済み画像において顕在化する抜け欠陥検出処理部とを具備するようにした印刷版検査装置。

請求項（抜粋）：

検査対象となる印刷版を撮像して得た検査対象画像と、前記印刷版に形成されている画像に対応する検査基準画像とを比較して前記印刷版の欠陥検出を行なう印刷版検査装置であって、前記検査基準画像と前記検査対象画像から、(基準-対象)差分画像および/または(対象-基準)差分画像、検査基準エッジ膨張画像および/または検査対象エッジ膨張画像を生成し、前記(基準-対象)差分画像を前記検査対象エッジ膨張画像でマスク処理した(基準差分-対象膨張)マスク済み画像において顕在化する汚れ欠陥を検出する汚れ欠陥検出処理部および/または前記(対象-基準)差分画像を前記検査基準エッジ膨張画像でマスク処理した(対象差分-基準膨張)マスク済み画像において顕在化する抜け欠陥を検出する抜け欠陥検出処理部、を具備することを特徴とする印刷版検査装置。

IPC (6件)：

B41C 1/00 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 1/00 310 ,  G06T 7/00 200 ,  G06T 7/00 300 ,  H04N 1/40

FI (6件)：

B41C 1/00 ,  G06T 1/00 300 ,  G06T 1/00 310 A ,  G06T 7/00 200 A ,  G06T 7/00 300 E ,  H04N 1/40 Z

Fターム (28件)：

2H084AA30 ,  2H084AE07 ,  2H084CC05 ,  5B057AA01 ,  5B057AA12 ,  5B057BA02 ,  5B057CA12 ,  5B057CA16 ,  5B057DA03 ,  5B057DB02 ,  5B057DC16 ,  5B057DC32 ,  5C077LL11 ,  5C077MM27 ,  5C077MP07 ,  5C077MP08 ,  5C077PP15 ,  5C077PP33 ,  5C077PP47 ,  5C077PQ20 ,  5C077PQ23 ,  5C077RR02 ,  5C077TT08 ,  5L096BA03 ,  5L096EA02 ,  5L096FA06 ,  5L096GA08 ,  5L096JA11

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 絵柄検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-318801   出願人：凸版印刷株式会社

審査官引用 (1件)

• 絵柄検査装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願平5-318801   出願人：凸版印刷株式会社