特許
J-GLOBAL ID：200903085360539335
3次元情報測定方法及び装置及びプログラム及びプログラムを記録した記録媒体
発明者：
,
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
志賀 富士弥
, 橋本 剛
, 鵜澤 英久
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2002-312537
公開番号（公開出願番号）：特開2004-144706
出願日： 2002年10月28日
公開日（公表日）： 2004年05月20日
要約：
【課題】複数の画像を用いた測定物の3次元情報の測定において、対応付け処理を容易とし、奥行き方向の精度のよい測定を可能とする。【解決手段】平行投影対応点探索部12は、対応付けが容易だが奥行き方向の精度が悪い場合のある平行投影方式により、複数の中心投影画像と平行投影画像を用い中心投影画像中での対象点の対応点を測定物の見え方が同じになるような平行投影画像中から平行投影方式で決定する。ステレオ対応点探索部13は、基線長が長いと対応付けが困難だが奥行き方向の精度が良いステレオ方式により、中心投影画像中での対象点の対応点を他の中心投影画像から決定する。3次元情報算出部14は、その両測定方式で対象点の3次元情報を算出する。3次元情報決定部15は、より確からしい測定方式を決定するために両対応点に対して基準値を導入し、該基準値を比較して対象点の3次元情報を決定・出力する。【選択図】 図1
請求項（抜粋）：
同一測定物を撮影した複数の平行投影画像と中心投影画像から該測定物の3次元情報を測定する方法であって、
中心投影画像の1枚を基準中心投影画像と設定し、該基準中心投影画像から対象点を選択し、該対象点の近傍に処理完了済みの対象点がある場合には該処理完了済みの対象点と同じ測定方式の対応点探索手順に移行させ、ない場合には次の手順に移行させる処理制御手順と、
前記基準中心投影画像の撮影パラメータに基づいて参照する平行投影画像を決定し、該平行投影画像において前記対象点に対応する平行投影対応点を探索・決定する平行投影対応点探索手順と、
前記基準中心投影画像の撮影パラメータに最も近い撮影パラメータを有する中心投影画像を参照中心投影画像として設定し、該参照中心投影画像において前記対象点に対応するステレオ対応点を探索・決定し、前記ステレオ対応点決定時の対応付けの確からしさを示す評価値とあらかじめ設定した閾値を比較し、前記評価値が前記閾値より高い評価の場合には前記参照中心投影画像、前記参照中心投影画像の撮影パラメータ、及び前記ステレオ対応点を各々基進中心投影画像、基準中心投影画像の撮影パラメータ、及び対象点の代わりとして用い同様の処理を続け、前記評価値が前記閾値より低い評価の場合には直前の処理で決定されたステレオ対応点とこれに対応する中心投影画像の撮影パラメータを各々最終的なステレオ対応点と参照中心投影画像の撮影パラメータとして決定するステレオ対応点探索手順と、
前記基準中心投影画像における前記対象点と前記基準中心投影画像の撮影パラメータと前記平行投影対応点と前記平行投影画像の撮影パラメータを用いて平行投影方式の3次元情報算出式により該対象点の3次元情報を算出する、及び前記基準中心投影画像における前記対象点と前記基準中心投影画像の撮影パラメータと前記ステレオ対応点と前記参照中心投影画像の撮影パラメータからステレオ方式の3次元情報算出式により該対象点の3次元情報を算出する3次元情報算出手順と、
前記平行投影対応点と、前記ステレオ対応点について採用する3次元情報を決定する基準値をそれぞれ算出し、該基準値の比較により出力する3次元情報を決定する3次元情報決定手順とを有する
ことを特徴とする3次元情報測定方法。
IPC (2件)：
FI (2件)：
G01B11/24 K
, G06T1/00 315
2F065AA04
, 2F065AA53
, 2F065FF01
, 2F065FF05
, 2F065JJ03
, 2F065JJ26
, 2F065LL13
, 2F065QQ31
, 2F065QQ42
, 5B057BA02
, 5B057CA12
, 5B057CA16
, 5B057DB02
, 5B057DC09
