特許

J-GLOBAL ID：200903085383426538

多点測距装置

発明者： 小迫 幸聖 ,  佐藤 琢磨
出願人/特許権者： 旭光学工業株式会社
代理人 (1件)： 三浦 邦夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-077357
公開番号（公開出願番号）：特開平7-287161
出願日： 1994年04月15日
公開日（公表日）： 1995年10月31日
要約：

【要約】【目的】 測距可能な条件が広い多点測距装置を提供すること。【構成】 複数の測距エリア15a、15b、15c内に入る各被写体を測距する多点測距装置であって、隣り合う測距エリア15a、15b、15cを一部分重複させて配置したこと。

請求項（抜粋）：

複数の測距エリア内に入る各物体を測距する多点測距装置であって、隣り合う測距エリアを一部分重複させて配置したこと、を特徴とする多点測距装置。

IPC (3件)：

G02B 7/34 ,  G01C 3/06 ,  G03B 13/36

FI (2件)：

G02B 7/11 C ,  G03B 3/00 A

引用特許：

審査官引用 (3件)

• 特開昭63-017417
  
• 特開昭62-047612
  
• 特開平2-050115