特許

J-GLOBAL ID：200903085414291547

汚染検査装置

発明者： 牧野 俊一郎
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 波多野 久 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平11-186397
公開番号（公開出願番号）：特開2001-013250
出願日： 1999年06月30日
公開日（公表日）： 2001年01月19日
要約：

【要約】【課題】原子力施設の建屋や機器表面の汚染の有無を測定する場合に、バックグランド放射線が変動する各種条件下であっても、汚染による計数値を正確に算出することができ、さらに微弱な汚染を精度よく検出することができ、かつ迅速な測定が行える汚染検査装置を提供する。【解決手段】汚染個所から放出される放射線を検査する汚染検査装置であって、汚染個所からの放射線を検出対象とする平板状のシンチレータ13a1,13a2を2枚重ねて配置し、その1層目および2層目のシンチレータの厚さの合計を対象放射線の飛程とした放射線検出手段12aと、1層目および2層目のシンチレータの信号の同時計数を行う同時計数手段17a,18aと、その計数結果を表示する表示手段19aとを有する。

請求項（抜粋）：

汚染個所から放出される放射線を検査する汚染検査装置であって、前記汚染個所からの放射線を検出対象とする平板状のシンチレータを2枚重ねて配置し、その1層目および2層目のシンチレータの厚さの合計を対象放射線の飛程とした放射線検出手段と、前記1層目および2層目のシンチレータの信号の同時計数を行う同時計数手段と、その計数結果を表示する表示手段とを有することを特徴とする汚染検査装置。

IPC (4件)：

G01T 1/169 ,  G01T 1/00 ,  G01T 1/20 ,  G01T 1/203

FI (4件)：

G01T 1/169 A ,  G01T 1/00 A ,  G01T 1/20 B ,  G01T 1/203

Fターム (17件)：

2G088AA03 ,  2G088EE17 ,  2G088EE21 ,  2G088FF04 ,  2G088FF05 ,  2G088FF18 ,  2G088GG11 ,  2G088GG15 ,  2G088GG20 ,  2G088JJ01 ,  2G088JJ05 ,  2G088KK07 ,  2G088KK15 ,  2G088KK28 ,  2G088KK29 ,  2G088LL02 ,  2G088LL11