特許
J-GLOBAL ID：200903085427024440
蛍光X線分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
岡田 和秀
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平3-287702
公開番号（公開出願番号）：特開平5-126998
出願日： 1991年11月01日
公開日（公表日）： 1993年05月25日
要約：
【要約】【目的】 試料からの蛍光X線を一次ソーラスリットを通して平行ビームとして取り出す蛍光X線分析装置において、検出感度を低下させることなく従来よりも一層S/N比を向上させる。【構成】 一次ソーラスリット6の前段に、試料2の形状の大小に応じた口径を有しかつ試料2側に突設した筒状部4a,4b,4cを備えた視野制限用絞り4が配置されている。
請求項（抜粋）：
試料からの蛍光X線を一次ソーラスリットを通して平行ビームとして取り出す蛍光X線分析装置において、前記一次ソーラスリットの前段に、前記試料の形状の大小に応じた口径を有しかつ試料側に突設した筒状部を備えた視野制限用絞りが配置されていることを特徴とする蛍光X線分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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