特許

J-GLOBAL ID：200903085437862622

X線診断装置

発明者： 坂口 卓弥
出願人/特許権者： 株式会社東芝
代理人 (1件)： 鈴江 武彦 (外6名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-252676
公開番号（公開出願番号）：特開2000-079111
出願日： 1998年09月07日
公開日（公表日）： 2000年03月21日
要約：

【要約】【課題】本発明の目的は、X線パルスの曝射の撮影間隔をより短縮できるX線診断装置を提供することにある。【解決手段】本発明は、2種類のX線パルスを交互に曝射し、平面検出器5の奇数フィールド内の撮像素子に2種類のX線パルス両方の曝射による信号電荷を蓄積し、偶数フィールド内の撮像素子には、2種類のX線パルスのうち後に曝射されるX線パルスによる信号電荷だけを蓄積させ、2種類のX線パルス両方の曝射終了後に両フィールドから信号電荷を読み出して第1フィールド画像と第2フィールド画像を得るものである。

請求項（抜粋）：

右目用と左目用の2種類のX線パルスを被検体に向けて交互に曝射させ、前記被検体を透過したX線像を撮像手段で撮像し、前記撮像手段からの出力信号に基づいて画像生成手段で右目用と左目用の2種類のX線画像を得るステレオ撮影対応のX線診断装置において、前記撮像手段の第1フィールド内で撮像される第1フィールド画像が前記2種類のX線パルス両方による情報を有し、第2フィールド内で撮像される第2フィールド画像が前記2種類のX線パルスのうち一方による情報を有するように、前記2種類のX線パルスを曝射し、前記撮像手段で撮像し、その信号を読み出すことを特徴とするX線診断装置。

IPC (2件)：

A61B 6/02 351 ,  G03B 42/02

FI (2件)：

A61B 6/02 351 Z ,  G03B 42/02 Z

Fターム (17件)：

2H013AC03 ,  4C093AA10 ,  4C093AA24 ,  4C093CA27 ,  4C093DA02 ,  4C093EA03 ,  4C093EA07 ,  4C093EB02 ,  4C093EB11 ,  4C093EB13 ,  4C093EB17 ,  4C093FA19 ,  4C093FA29 ,  4C093FA33 ,  4C093FA43 ,  4C093FC03 ,  4C093FF34