特許

J-GLOBAL ID：200903085448025498

位相比較回路

発明者： 清水 泰成
出願人/特許権者： ソニー株式会社
代理人 (1件)： 稲本 義雄 (外1名)
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平4-174963
公開番号（公開出願番号）：特開平5-343988
出願日： 1992年06月09日
公開日（公表日）： 1993年12月24日
要約：

【要約】【目的】 光磁気ディスクより再生されたRF信号のレベルが変動したり、光学的なMTFが変動した場合においても、クロックピット信号とクロックの位相誤差を正確に検出する。【構成】 サンプルホールド回路4は、微分器3によりクロックピット信号aを微分した微分信号bを、PLL回路5が生成するクロックの所定のタイミングにおけるエッジc1においてサンプルホールドする。検出回路12は微分器3が出力する微分信号bの傾きを検出し、その検出した傾きαiを除算器11に出力する。除算器11は、サンプルホールド回路4が出力する微分信号bの所定のタイミングにおけるレベルφiを、サンプルホールド回路22が出力する傾きαiで除算し、PLL回路5に出力する。PLL回路5は除算器11より入力された信号に対応したクロックを生成する。

請求項（抜粋）：

入力信号と基準信号の位相を比較する位相比較回路において、前記入力信号を微分する微分手段と、前記基準信号に同期した所定のタイミングにおいて、前記微分手段より出力される微分信号のレベルを検出するレベル検出手段と、前記微分信号の傾きを検出する傾き検出手段と、前記レベル検出手段により検出した前記微分信号のレベルを、前記傾き検出手段により検出した傾きにより除算する除算手段とを備えることを特徴とする位相比較回路。

IPC (5件)：

H03L 7/085 ,  G11B 7/00 ,  G11B 11/10 ,  H03K 5/26 ,  G11B 20/14 351