特許
J-GLOBAL ID：200903085481968101
ビードフィラ検査装置
発明者：
,
出願人/特許権者：
代理人 (3件)：
杉村 興作
, 藤谷 史朗
, 来間 清志
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-258603
公開番号（公開出願番号）：特開2008-074329
出願日： 2006年09月25日
公開日（公表日）： 2008年04月03日
要約：
【課題】ビード付きビードフィラの積層乱れによる不良品の検出精度が高いビードフィラ検査装置を提供する。【解決手段】ビード付きビードフィラの幅と厚みを測定して2次元の測定形状データを作成するデータ取得手段1と、ビード付きビードフィラの全周にわたって所定間隔毎に作成した2次元の測定形状データを格納する測定データ格納手段2と、ビード付きビードフィラの基準形状データを格納する基準データ格納手段3と、測定データ格納手段2から取得した測定形状データと基準データ格納手段3から取得した基準形状データとを比較してビード付きビードフィラの不良品を検出する演算処理手段4と、検出結果を出力する結果表示手段5と、これらの手段を制御する装置全体制御手段6とを備える。【選択図】図1
請求項（抜粋）：
ビード付きビードフィラの幅と厚みを測定して2次元の測定形状データを作成する手段と、
前記測定形状データと、ビード付きビードフィラの基準形状データとを比較してビード付きビードフィラの不良品を検出する手段と、
を備えることを特徴とするビードフィラ検査装置。
IPC (1件)：
FI (1件)：
引用特許：
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