特許

J-GLOBAL ID：200903085484034665

X線検査装置

発明者： 三戸 美生
出願人/特許権者： 松下電器産業株式会社
代理人 (1件)： 宮井 暎夫
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平10-134959
公開番号（公開出願番号）：特開平11-326242
出願日： 1998年05月18日
公開日（公表日）： 1999年11月26日
要約：

【要約】【課題】 X線の照射線量の違いによる画像の濃淡差がなく、良否判定精度が良いX線検査装置を提供する。【解決手段】 被写体4a,4b,4cに向けてX線を照射するX線照射部1と、被写体4a,4b,4cを透過したX線を検出するセンサ5と、被写体4a,4b,4cをX線照射部1とセンサ5に対して相対的に移動させる移動機構とを備えたX線検査装置であって、X線照射部はX線透過率の異なる複数の部位を有するフィルタ2a,2b,2cを備え、複数の被写体4a,4b,4cをそれぞれ照射する照射ステップによって使用するフィルタ2a,2b,2cの部位を変更可能とした。これにより、照射線量率の立ち上がり時間による照射線量に差異をなくし、一定時間の照射で照射線量を一定値にすることができ、常に同一濃淡画像を得ることができ、2値化画像での判定精度が向上する。

請求項（抜粋）：

被写体に向けてX線を照射するX線照射部と、前記被写体を透過した前記X線を検出するセンサと、複数の被写体を前記X線照射部と前記センサに対して相対的に移動させる移動機構とを備えたX線検査装置であって、前記X線照射部はX線透過率の異なる複数の部位を有するフィルタを備え、複数の被写体をそれぞれ照射する照射ステップによって使用するフィルタの部位を変更可能としたことを特徴とするX線検査装置。

IPC (3件)：

G01N 23/04 ,  H05K 3/00 ,  G01B 15/00

FI (3件)：

G01N 23/04 ,  H05K 3/00 Q ,  G01B 15/00 A