特許
J-GLOBAL ID：200903085491207702
光画像計測装置及び光画像計測装置を制御するプログラム
発明者：
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出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
三澤 正義
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2006-349880
公開番号（公開出願番号）：特開2008-154939
出願日： 2006年12月26日
公開日（公表日）： 2008年07月10日
要約：
【課題】被測定物体の目的の深度位置の画像を取得することが可能な技術を提供する。【解決手段】眼底観察装置1(光画像計測装置)は、低コヒーレンス光L0を眼底Efに向かう信号光LSと参照ミラー174に向かう参照光LRとに分割し、眼底Efを経由した信号光LSと参照ミラー174を経由した参照光LRとを重畳させて干渉光LCを生成し、この干渉光LCを検出してOCT画像を形成する。解析部231は、形成されたOCT画像を解析し、フレームF内における当該OCT画像の位置を特定する。制御部210は、特定された位置に基づいて参照ミラー駆動機構243を制御し、画像形成部220により新たに形成される眼底EfのOCT画像がフレームF内の所定位置に配置されるように参照ミラー174を移動させる。【選択図】図7
請求項（抜粋）：
低コヒーレンス光を出力する光源と、
該出力された低コヒーレンス光を被測定物体に向かう信号光と参照物体に向かう参照光とに分割し、前記被測定物体を経由した信号光と前記参照物体を経由した参照光とを重畳させて干渉光を生成する干渉光生成手段と、
前記信号光と前記参照光との光路長差を変更する変更手段と、
前記生成された干渉光を検出する検出手段と、
該検出手段による検出結果に基づいて、所定のフレーム内に前記被測定物体の画像を形成する画像形成手段と、
該形成された画像を解析し、前記所定のフレーム内における当該画像の位置を特定する解析手段と、
該特定された位置に基づいて前記変更手段を制御し、前記画像形成手段により新たに形成される前記被測定物体の画像が前記所定のフレーム内の所定位置に配置されるように前記光路長差を変更させる制御手段と、
を備えることを特徴とする光画像計測装置。
IPC (3件)：
A61B 3/12
, A61B 3/10
, A61B 3/14
A61B3/12 E
, A61B3/10 R
, A61B3/14 A
