特許
J-GLOBAL ID：200903085494534348
質量分析装置
発明者：
出願人/特許権者：
代理人 (1件)：
小林 良平
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願平6-298794
公開番号（公開出願番号）：特開平8-138620
出願日： 1994年11月07日
公開日（公表日）： 1996年05月31日
要約：
【要約】【目的】 中性分子や原子を極力排除し、イオンのみをマスフィルタに送り込むようにする。【構成】 イオンレンズの後方焦点付近に先端開口を有するコーン形電極を設ける。これによりイオンはコーン形電極の先端開口を通過できる一方、中性分子や原子はコーン形電極によりそれ以降への進行を妨げられる。
請求項（抜粋）：
高圧側のイオン化室で試料をイオン化し、ノズルを通して差圧により低圧側のマスフィルタ室にイオンを引き込む質量分析装置において、a)マスフィルタ室内の上記ノズルの後方に設けられたイオンレンズと、b)上記イオンレンズの後方焦点付近に先端開口を有するコーン形電極と、を備えることを特徴とする質量分析装置。
IPC (2件)：
引用特許：
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