特許

J-GLOBAL ID：200903085505191561

外観検査方法

発明者： 室崎 隆 ,  吉田 州泰 ,  赤木 桂二
出願人/特許権者： 株式会社デンソー
代理人 (4件)： 青木 篤 ,  鶴田 準一 ,  島田 哲郎 ,  伊坪 公一
公報種別：公開公報
出願番号（国際出願番号）：特願2007-273799
公開番号（公開出願番号）：特開2009-103498
出願日： 2007年10月22日
公開日（公表日）： 2009年05月14日
要約：

【課題】色成分判定ではグレーゾーンに入る検査対象について、目視とほぼ同等の判定結果が得られるような外観検査方法を提供する。【解決手段】溶接ワークの画像から黄銅色成分を有する画素を抽出して、抽出された画素の面積により良不良の色成分判定を行い(S6)、色判定では、グレーゾーンとされた溶接ワークをテクスチャ解析によるエネルギーとエントロピーで良不良の判定を行い(S7、S8)、さらに、グレーゾーンに入る溶接ワークをエネルギー、エントロピー、均一度、およびHSV空間において、色相が10〜35の範囲にあり、彩度が30〜255の範囲にあり、明度が0〜110の範囲にあるという条件を満たす画素の水平累計分布値を特徴量として、サポートベクターマシン解析によるSVM判定を行う(S10)。【選択図】図1

請求項（抜粋）：

検査対象の表面の色により良不良を判別する外観検査方法において、 前記検査対象の画像から所定の色成分を有する画素を抽出して、抽出された画素の面積により前記検査対象の良不良の判別を行うステップと、 前記判別の結果、良不良の判別ができないグレーゾーンにある検査対象について、前記所定の色成分に関するテクスチャ解析により導出されたエネルギー、エントロピー、均一度、および前記所定の色成分に関する所定範囲の色相、彩度、および明度を有する画素の水平累計分布値を特徴量としてサポートベクターマシン解析を行い、検査対象の良不良の判別を行うステップと、 を有することを特徴とする外観検査方法。

IPC (1件)：

G01N 21/88

FI (1件)：

G01N21/88 J

Fターム (8件)：

2G051AA07 ,  2G051AB02 ,  2G051AB13 ,  2G051BA08 ,  2G051CA04 ,  2G051EA11 ,  2G051EA17 ,  2G051EB01

引用特許：

出願人引用 (1件)

• 判別分析を行う方法、プログラム及び装置
  公報種別：公開公報   出願番号：特願2005-246889   出願人：学校法人中央大学